半導體芯片界公認的“未來(lái)材料”——碳化硅

2018-12-25

碳化硅(SIC)是半導體界公認的“一種未來(lái)的材料”,是新世紀有廣闊發(fā)展潛力的新型半導體材料。預計在今后5~10年將會(huì )快速發(fā)展和有顯著(zhù)成果出現。促使碳化硅發(fā)展的主要因素是硅(SI)材料的負載量已到達極限,以硅作為基片的半導體器件性能和能力極限已無(wú)可突破的空間。


根據數據顯示,碳化硅 (SiC)電力電子市場(chǎng)是具體而實(shí)在,且發(fā)展前景良好。這種趨勢非但不會(huì )改變,碳化硅行業(yè)還會(huì )進(jìn)一步向前發(fā)展。業(yè)界半導體企業(yè)正在嘗試碳化硅技術(shù),以應用于具體且具有發(fā)展前景的項目。


碳化硅

碳化硅(SiC)是一種寬帶隙材料,與硅相比,具有許多優(yōu)點(diǎn),例如,工作溫度更高,散熱性能得到改善,開(kāi)關(guān)和導通損耗更低。 不過(guò),寬帶隙材料比硅基材料的量產(chǎn)難度更高。因為純硅晶圓的提升空間的局限性,碳化硅的出現也算是半導體芯片的一種導向和突破。


碳化硅特性

碳化硅的優(yōu)點(diǎn)

更高的性能和工作電壓

• 功率損失極低

• 本征SiC體二極管(MOSFET)(4象限開(kāi)關(guān)操作)

• 開(kāi)關(guān)比硅更快,更可靠

• 在擊穿電壓相同的條件下,芯片尺寸更小

• 能效更高

• 導熱性高

更高的工作頻率

• 開(kāi)關(guān)損耗更低,二極管開(kāi)關(guān)性能出色

• 更小、更輕量化的系統


更高的工作溫度

• 工作節溫最高200°C

• 散熱要求降低,可用于輕量化系統,延長(cháng)使用壽命


容易驅動(dòng)

• 完全兼容標準柵極驅動(dòng)器

• 設計更簡(jiǎn)單




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